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电源故障预测
发布时间:2016-11-03 阅读：次 [打印文章] [关闭窗口]I.电子系统的故障预测技术定义
故障是产品不能完成规定功能或性能退化导致不能满足规定要求的状态。电子系统的故障预测技术是以当前电子系统的使用状态为起点，对将来可能出现的故障进行预测，当预测到故障时及时向用户提出警告，以便用户能够采取措施避免重大恶性事故发生,对现行的系统管理和维修制度具有开创性的作用，达到及时的故障预测和对电子系统有效的健康管理。故障预测技术是实时地监控系统的健康状态和剩余使用寿命(RUL),它提供状态维修的依据,并且它区别于故障诊断(事后维修)。
采用故障预测技术有很多好处。据NAVAIR统计,在支援设备上有6%到10%的节省,在必要的人力支持方面有46%到52%的节省，在美国商业电信部门，最近的一项分析表明，故障预测系统的启用导致OEM电力系统的33%投资回报率（ROI）。故障预测或预测的诊断方法可以让用户检测到退化的被监察电子模块。通过预先警告即将发生磨损，可进行以条件为基础的维修。在这期间，故障预测也可以支持动态切换到备份系统，或通过切负荷计划，或其他闭环控制措施，以确保任务圆满成功。
系统的寿命通常认为，一个浴缸曲线模型，如图1所示。为了避免过早的失效，检测失效边缘的触发是可取的，就象图1.的故障预测触发点一样。这个故障预测触发点，可以通过“金丝一体成型电感器雀”型感应器或由算法所得到。图1.曲线揭示了系统的寿命与失效速率的关系,可以看到在系统的初期随着时间的延长,失效速率是逐渐降低的,这个阶段,容易发生早期失效；随着时间的推移,系统进入稳定期,也就是有用寿命期,这里会发生随机失效；当进入退化期,退化失效速率是随时间而升高的。故障预测触发点设置在有用寿命期期间,不让系统进入退化期。
故障预测技术最初是为机械的应用发展起来的，并在直升机和复杂的机械系统与HUMS子系统里所采用。由于要监测的组成部分不同，其特征值，时间常数，和断断续续性的存在，电子故障预测技术需要独特的创新提供类似的能力。电子故障预测技术尤为宝贵，尤其是在运行准备很重要和停机费用昂贵等关键系统。比如说:FADEC飞行控制系统，电源系统,动力系统，驱动器和数字CPU板等。
采用电子故障预测技术需要监测系统中的关键组成部分的行为。这种行为可以用被监控的传感器，例如Ridgetop-GroupSJ-BIST和Ringdown™,前者主要是对由于焊锡球栅阵列(BGA或FPGA)的焊锡球在PCB板上的断裂造成的电信号断断续续的现象进行监测;后者主要是对电源系统寿命的监测。
图2.电感器厂家PCB或模块可以启用故障预测
在PCB或模块上可以启用故障预测的，如图2.所示:SJ-BIST主要是对FPGA或BGA在PCB板上焊接球的状态的监测,尤其是对PCB板上焊接球断裂造成的系统断断续续的现象的监测;IC的NBTI,TDDB等单元是对芯片本身寿命的故障预测;电源传感器是对电源寿命的监测,即Ringdown™。在图2.中关键模块可以用来监测或观察使用现有的传感器点，或者由另外的传感器来监测或观察。另外的传感器也可以被集成或者将非侵入式传感器放到另一个系统。
II.电源系统的故障预测技术-Ringdown™
电源系统是电子系统的主要部件，同时也是制约电子系统寿命的关键部件。传统电源系统的特点可以概括成下列几条：
1.符合安全规范
2．能带动大容性负载,电子系统可以有很多去耦电容.
3．从空载到满载能稳定运行,模块插卡式设备,模块数量和功耗不同
4．纯电阻负载到大容性负载能稳定运行
5．空载突变到满载或满载到空载,电压下跌量小,恢复时间短
6．起动时,电压无超调或电压超调量小
7．纹波小
8．输入电压范围广
9．输高频电感器设计入掉电,输出电压维持时间长
10．工作环境温度范围广,低温下空载,高温下满载长时间运行
11．符合EMC标准
12．能驱动瞬时超过载(脉冲负载)
13．负载短路时能自动进入恒流状态,短路故障去除,能自动进入恒压.
14．效率要高
15．大功率具有PF校正
16.出厂前老化
众所周知，电源出厂前要进行老化试验。老化的目的是评估电源的性能和寿命，送到用户手中的电源是稳定的。即图1.中所示的电源应处在稳定期，但也可以从图1.可以看出,即使是系统处于稳定期,也会发生随机失效。为了用户的电源系统有很好的可靠性和故障预知性，应该再加电源系统的故障预测技术-Ringdown™。美国Ridgetop-Group的Ringdown™解决方案使电源系统的故障预测技术成为可能，它能提高电源系统的塑封电感可靠性和可维护性与故障的可预测性。Ringdown™解决方案既然是一种故障预测技术，它也遵从故障预测的普遍原则，即即插即用原则，不需要对用户电源系统电路进行任何改动就可以实现对电源系统的健康状况实时监控,其性能远超过现行的静贴片电感器态电流负载测试方法。DC／DC辐照损伤与VDMOS器件1／f噪声相关性研究0 引言 大量的研究表明，低频噪声除了与产品性能有关之外，还与产品质量和可靠性密切相关。国内外出现了一系列使用低频噪声特别是1/f噪声表征器件可靠性的方法，这些器件不仅包括二极管、三极管、MOS管、厚
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