去除Y电容无法有效地旁路共模电流,导致共模电流噪声过大,无法通过测试,解决的方法是改进变压器的结构,一般的屏蔽方法不能使设备在无Y电容的情况下通过EMI的测试,由于MOSFET漏极端的电压变化幅值大,主要针对这个部位进行设电感厂家计,需要注意:电压的变化是产生差模及共模电流的主要原因,寄生电容是其流动的通道,前面提到,Cm、Cme、Cme和Ca也会产生共模电流,初级层间电容的电流一部分形成差模电流,有一部分也会形成共模电流,这也表明差模和共模电流可以相互转换。
测试结果
浮空电压波形
测量变压器初级和次级静点的电压波形及变压器磁芯的电压波形,可以为EMI的传导测试提供一些参考(见图4)。常规结构变压器的初级和次级静点电共模电感压波形的幅值为10V,并且可以明显地看到基于开关频率大功率电感贴片电感器的开关波形,新结构变压器的初级和次级静点电压波形的幅值为5V,基于开关频率的开关波形不是很明显,常规结构的变压器的磁芯电压波形的幅值为18V,可以明显地看出基于开关频率的开关波形,新结构的变压器的磁芯电压波形的幅值为5V,基于开关频率的开关波形不是很明显。
传导及辐射测量
如图5所示,从测试结果看,即使出除了Y电容,由于对变压器的结构进行了优化补偿,因此可以通过测试的要求。
结语
1、在变压器内部使用补偿的方法可以减小共模干扰电流,从而提高系统的EMI传导性能,并可以去除Y电容。
2、使用屏蔽绕组和铜皮是在变压器内部进行补偿的有效方法。
3、变压器内部补偿对高频辐射的影响不明显。
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